Intermediate check Gauge Block

การทำ Intermediate check ของห้องปฏิบัติการสอบเทียบ

 

 

  ในการใช้งานเครื่องมือวัดทั่วไป นอกจากเราจะต้องมีความเข้าใจในวิธีการวัดที่ถูกต้องแล้วผู้ใช้ต้องมีความมั่นใจว่า เครื่องมือนั้นมี

ความถูกต้องแม่นยำที่เหมาะสมกับของชิ้นงานที่มักจะกำหนดค่าตามคุณสมบัติเฉพาะ (Specification) และค่าความคลาดเคลื่อนของเครื่องมือ โดยพิจารณาจากผลการสอบเทียบจากห้องปฏิบัติการสอบเทียบ แต่หลังจากที่เครื่องมือถูกนำมาใช้งานระยะหนึ่งและก่อนที่จะถึงกำหนดการสอบเทียบครั้งต่อไป เราจำเป็นจะต้องมีการทวนสอบ(Verify) ว่าเครื่องมือยังมีความถูกต้องอยู่ในเกณฑ์ที่เรากำหนด เพื่อให้มั่นใจว่ายังสามารถนำไปใช้งานได้ ซึ่งระยะเวลาของการทวนสอบก็กำหนดตามความเหมาะสมและลักษณะการใช้งาน โดยพิจารณาจากความถี่และสภาพแวดล้อมของการใช้งานเป็นหลัก สำหรับห้องปฏิบัติการสอบเทียบก็เช่นกันต้องมีความมั่นใจว่าอุปกรณ์และเครื่องมือมาตรฐานที่ใช้ในการสอบเทียบอยู่ในเกณฑ์มาตรฐานที่กำหนดดังนั้นเมื่อมีการตรวจประเมินความสามารถห้องปฏิบัติการสอบเทียบตามมาตรฐาน ISO/IEC 17025 ผู้ตรวจประเมินด้านวิชาการมักจะให้ห้องปฏิบัติการสอบเทียบทำ Intermediate check ตัวอย่างเช่น การทำ Intermediate check สำหรับเกจบล็อกซึ่งเป็นมาตรฐานสูงสุดของห้องปฏิบัติการสอบเทียบทั่วไปที่ใช้ในการสอบเทียบเครื่องมือวัดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์คาลิปเปอร์ หรือเวอร์เนียร์คาลิปเปอร์ เป็นต้น

 

        เมื่อพิจารณาคุณสมบัติทางฟิสิกส์ของเกจบล็อกตามข้อกำหนดใน ISO 3650 ข้อ 6.2.4 พบว่า ค่าความคงตัวต่อปี (Dimensional stability/year) มีค่าเท่ากับ 0.02 μm + 0.5 × 10-6 × l สำหรับเกจบล็อกเกรด K และ 0 และมีค่าไม่เกิน0.05 μm + 0.5 × 10-6 × l สำหรับเกจบล็อกเกรด1 และ 2 ซึ่งมีค่าการเปลี่ยนแปลงน้อยมาก เมื่อเทียบกับค่าความคลาดเคลื่อนของเครื่องมือวัดละเอียดทั่วๆไป ดังนั้นจึงต้องพิจารณาค่าจากผลการสอบเทียบประจำปีที่ผ่านมาว่า มีค่าความเบี่ยงเบนจากค่ากลาง (Deviation from central length) และค่าผันแปรของความยาว (Variation of length) แตกต่างกันเกินเกณฑ์การยอมรับได้หรือไม่ เพราะฉะนั้นในการทำ Intermediate check ของห้องปฏิบัติการสอบเทียบ สามารถทำได้ด้วยการวัด ความเรียบบนผิวหน้าของเกจบล็อกด้วยออปติคอลแฟลต (Optical flat) วิธีการทำคือ ประกบเกจบล็อกเข้ากับ แผ่นออปติคอลแฟลต เมื่อเราออกแรงกดเพียงเล็กน้อยและสังเกตดูบนผิวหน้าของเกจบล็อกผ่านแผ่นออปติคอลแฟลตจะต้องไม่พบริ้ว (Fringe) ของการแทรกสอดของแสงเลย ลักษณะเช่นนี้เราสามารถประมาณการได้ว่าผิวหน้าของเกจบล็อกมีความเรียบไม่เกิน 0.1 μm ตามข้อกำหนด ISO 3650 ข้อ 8.2

 

ดังนั้นจะเห็นได้ว่าการใช้แผ่นออปติคอลแฟลตวัดความเรียบบนผิวหน้าของเกจบล็อกแทนที่จะต้องซื้อเครื่องมือมาตรฐานขั้นสูงขึ้นไป ที่มีราคาแพง มากๆ เพื่อมาทำ Intermediate check อย่างเดียว จึงเป็นทางเลือกที่คุ้มค่า มีประสิทธิภาพสูงและได้รับการยอมรับ โดยทั่วไป

 

 

 

 

            อนุสรณ์ ทนหมื่นไวย หัวหน้าห้องปฏิบัติการความยาว และรักษาการหัวหน้าฝ่ายมาตรวิทยามิติ สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี ผู้คร่ำหวอดทางด้านงานมาตรวิทยาทางด้านมิติ มีผลงานทั้งการวิจัยและเป็นวิทยากรที่ได้รับความเชื่อถือในวงการมามากกว่า 20 ปี และเป็นอาจารย์พิเศษหลักสูตรวิศวกรรมมาตรวิทยา คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี